九域半导体

专注于半导体计量分析设备的生产、研发和服务

<1> 涡流法电阻率分析仪（晶锭和晶片），应用于半导体Wafer及Ingot的电阻率分析；

<2> 涡流法电阻率探头（晶锭和晶片），应用于光伏、太阳能Si片，晶锭电阻率的检测；

<3> SPV法PN探头，应用于光伏、太阳能Si片的检测；

<4> 电容法厚度探头，应用于Wafer的厚度测量，平坦度测量，距离测量，分辨率0.1μm；

<5> 迁移率（霍尔）测试仪，应用于射频领域，载流子迁移率及载流子浓度的测量；

<6> JPV法薄膜方阻探头及分析系统，应用于电池片方阻测量；

<7> 手动Wafer电阻率、厚度、PN、温度分析系统（解决样片翘曲度影响）;

<8> 全自动EFEM晶锭/晶片一体机

公司成立于2021年,是一家注册在苏州，非接触式半导体检测分析设备制造商。公司集研发、设计、制造、销售于一体，主要攻克国外垄断技术，替代进口产品,使半导体材料测试设备国产化。

主要产品有:

非接触式无损方块电阻测试仪、晶圆方阻测试仪、方阻测试仪、硅片电阻率测试仪、涡流法高低电阻率分析仪、晶锭电阻率分析仪、涡流法电阻率探头和PN探头测试仪、迁移率(霍尔)测试仪、少子寿命测试仪,晶圆、硅片厚度测试仪、表面光电压仪JPV\SPV、汞CV、ECV等。为碳化硅、硅片、氮化镓、衬底和外延厂商提供测试和解决方案。

凭借丰富的技术和产品设计经验，申请各项知识产权21余项，已发展成为中国大陆具有一定竞争力的半导体专用设备提供商，产品得到众多国内外主流半导体厂商的认可，并取得良好的市场口碑。