手持式方阻测试系统(导电薄膜、晶锭测试)
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HANDHELD RS TESTING SYSTEM
手持式方阻测试系统（导电薄膜，SiC晶锭测试）
产品描述
手持式测试系统可根据客户需求灵活选配电阻率探头，模组轻便，易携带。
特点
- 易携带，随放随测
- 手动开关触发，可集成MAPPING图及温度补偿功能
- 长久寿命（>10年）
技术参数
方阻 | ||
测片 | 量程：5~400 Ω/sq（范围可定制） | |
测锭 | 量程：0.003~0.6 Ω·cm | |
| 趋肤深度：1.6mm | ||
采样率 | 60 - 1000SPS （1ms - 16ms/点） | |
采样数据 | 上限400个点 | |
传输协议 | Modbus Rtu/ Modbus Tcp、用户自定义 SOCKET 协议等 | |
尺寸 | 探头：Ф20×136mm | 控制盒：173×130×55mm |
上位机版本demo软件界面支持mapping曲面图，等高线图等：
客户可根据协议自行开发
嵌入式版本