九域半导体将亮相2026湾芯展

公司成立于2021年，是一家注册在苏州、具备世界领先技术的非接触式半导体检测分析设备制造商。公司集研发、设计、制造、销售于一体，主要攻克国外垄断技术，替代进口产品，使半导体材料测试设备国产化。

主要产品：非接触式无损方块电阻测试仪、晶圆方阻测试仪，方阻测试仪，硅片电阻率测试仪，涡流法高低电阻率分析仪，晶锭电阻率分析仪，涡流法电阻率探头和PN探头测试仪，迁移率（霍尔）测试仪，少子寿命测试仪，晶圆、硅片厚度测试仪，表面光电压仪JPV\SPV。为碳化硅、硅片、氮化镓、氧化镓、金属薄膜、玻璃、衬底和外延厂商提供测试和解决方案。

■少子寿命测试仪‌是专门用来测量半导体材料中少数载流子生存时间的设备，主要用在光伏和芯片制造环节来监控材料质量。

■根据斯坦福纳米制造设施及 ASTM 国际标准，这类仪器通过光电导衰减等技术，非接触式地检测硅片等材料的缺陷与纯度，是保障太阳能电池转换效率和集成电路可靠性的关键工具。主要测试硅棒、硅片、硅锭等。

■设备主要利用涡电流测试原理，非接触测试半导体材料，石墨烯，透明导电膜，碳纳米管，金属等材料的电学特性。可实现单点测试，亦可以实现面扫描的测试功能，可用于材料研发及工艺的监测及质量控制。

■当被测样品靠近有交变电流的涡流线圈探头时，由于线圈上有交变磁场的作用，被测样品会感应出涡流电场并产生与原磁场方向相反的磁场，并部分抵消原磁场，从而导致检测线圈的电阻和电感变化，通过软件的计算，可以得到方块电阻的值。

■本仪器为非接触，非损伤测试，具有测试速度快，重复性佳，测试敏感性高，可以直接测试产品片等优点。

■设备主要利用微波测试原理，非接触式测量射频HEMT结构半导体材料的方阻、迁移率及载流子浓度。

■可实现单点测试，亦可以实现面扫描的测试功能，具有快速，无损，准确等优势，可用干材桃料研发及工艺的监测及质量控制设备主要利用微波测试原理，非接触测试半导体材料，石墨烯，透明导电膜，碳纳米管，金属等材料的电学特性。